2024年6月12日(水) ～ 14日(金) 東京ビッグサイト
「電子機器トータルソリューション展2024 / JISSO PROTEC 2024」
タカヤ株式会社ブースにご来場頂いた皆様 ありがとうございました。
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デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-1600FD-A
基板上面/下面 両ポイントへの同時コンタクト検査可能
検査可能範囲を大幅に拡大、検査時間のさらなる高速化を実現
スピード/位置決め精度 世界最高水準
インラインシステム
ローダー/アンローダー/反転機等との接続による全自動無人検査で
オペレータの負担削減・省人化に貢献
自動プログラム切替機能、自動コンベア幅変更機能搭載
分割検査で最大サイズ：985x610mmの基板まで検査可能
マルチプローブシステム
下面稼働軸に、専用治具昇降機構を搭載
BST（JTAGバウンダリスキャンテスト）など、外部機器と接続した特殊検査や
FPGA等のIC書き込み/ログ読み出しを行うことが可能
OPC-UA規格対応、MES連携
機器の種類/OS/メーカーなどの垣根を越え、
セキュリティが確保された信頼性の高いデータ交換が可能
テスタの稼働状況をリアルタイムでモニタリング、生産性向上
アプリケーションソフト ODB++データ変換
基板設計のCADデータ（ODB++形式）より 直接 部品/ネット情報を抽出、
検査プログラムへダイレクト変換
Gerberデータの編集や手作業によるネット情報の入力が不要、作業時間を大幅に短縮
JTAGバウンダリスキャンテストとの連携（JPCA賞受賞）
フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携し、
それぞれの検査手法の相互補完によって、
高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、
より正確な故障診断を可能とする新システム
展示しておりましたパネルは下記サイトよりご覧いただけます。
フライングプローブテスタのご紹介 技術資料・事例集 | カタログ | タカヤ – Powered by イプロス (ipros.jp)
ODB++フォーマットの活用 技術資料・事例集 | カタログ | タカヤ – Powered by イプロス (ipros.jp)
インサーキットテストとバウンダリスキャンテストの連携 技術資料・事例集 | カタログ | タカヤ – Powered by イプロス (ipros.jp)
