フライングプローブテスタ
New
APT-2600FD
基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現。
APT-2600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査が行える 次世代のデュアルサイドフライングプローブテスタです。テストカバレッジ向上と共に、基板反転動作による製品破損リスクを軽減し、検査時間も大幅に短縮します。高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献します。
岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。ご希望の方は『お問い合わせ』よりお申込みください。
関連動画
スペック
| プローブ数 | 上面4本 / 下面2本 |
|---|---|
| 検査ステップ数 | 最大 350,000ステップ |
| 測定スピード | 0.02秒/step～ |
| 最小コンタクトパッドサイズ | 50μm |
| プローブ位置決め繰り返し精度 | ±25μm |
| 最小プロービングピッチ | 0.15mm |
| 検査可能サイズ | L540×D483mm オプションでL890×D483mmまで拡張 |
| 使用電源/エアー | 電源：AC200～240V（単相） 50/60Hz、最大4.0kVA エアー：0.6～0.8Mpa（ドライエアー） |
| 寸法、重量 | W1400×D1500×H1450mm 1450kg |
測定範囲
| DC電圧 / 電流 | ±125V / ±1A（オプション:±2Aまで） |
|---|---|
| AC電圧 | 150mV ～ 75Vrms, f = 10Hz ～ 0.5MHz |
| 周波数 | 0.3Hz ～ 20MHz / 2V ～ 20Vp-p |
| 抵抗 | 1mΩ ～ 500MΩ |
| キャパシタンス | 0.5pF ～ 100F |
| インダクタンス | 0.5μH ～ 500H |
| インピーダンス / 位相角 | 2.5Ω ～ 3.3MΩ / ±90° |
| トランス | インダクタンス、巻線比、位相差 |
| PN接合VF測定 | 0.1V ～ 40V |
| ツェナーダイオード電圧 | 0.1V ～ 40V（オプション:ｍax.80Vまで） |
| オープンチェック | 閾値5Ω ～ 50MΩで設定可能（標準100Ω以上） |
| ショートチェック | 閾値1Ω ～ 500KΩで設定可能（標準10Ω以下） |
| ダイオード / トランジスタ / FET | PN接合VF測定、ONテスト、ゲイン、特性 |
| リレー / フォトカプラー / スイッチ素子 | ONテスト |
新機能
信頼性と生産性のさらなる向上に貢献。
APT-2400F / APT-2600FDシリーズより新たに搭載される機能をご紹介します。
資料請求
製品のカタログは以下のイプロス特設サイトよりご覧いただけます。
その他
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【採用業界】 EMS,EMDS企業 半導体製造装置関係 通信インフラ・サーバー 車載・航空機・船舶 医療機器 産業機械、ロボット FA工作機械 発電、電力システム 【活用事例】 ■量産品の検査 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化/無人検査 ■多品種少量基板の検査 専用治具製作コスト不要 不良個所の特定が容易 ■試作基板の検査 設計変更に即応したファンクションテスト（基板に電圧を印加し、回路動作（ON/OFF）の確認や直流電流の測定） ■機種切り替え時の実装確認検査 ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時セット間違いの確認 ■不良解析検査 機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析 他にも、様々な用途で活用いただいている実績がございます。 詳しくは営業担当までお問い合わせください。 |
