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製品情報

フライングプローブテスタ

APT-1340J

業界トップクラスの
超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

APT-1340J は従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50％アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度･広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。

岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。

検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。ご希望の方は『お問い合わせ』よりお申込みください。

スペック

プローブ数	4本
検査ステップ数	最大 350,000ステップ
測定スピード	0.02秒/step～
最小コンタクトパッドサイズ	60μm
プローブ位置決め繰り返し精度	±25μ～
最小プロービングピッチ	0.15 mm
検査可能サイズ	L540×D483mm オプションで890x483mmまで拡張
使用電源/エアー	電源：AC200～240V（単相）　　　　 50/60Hz、最大2.8kVA エアー：0.6～0.8Mpa（ドライエアー）
寸法、重量	W1400×D1500×H1400mm 1350kg（インライン機は1400kg）

測定範囲

DC電圧 / 電流	±125V / ±1A（オプション:±2Aまで）
AC電圧	150mV ～ 75Vrms, f = 10Hz ～ 0.5MHz
周波数	1Hz ～ 20MHz / 2V ～ 20Vp-p
抵抗	5mΩ ～ 50MΩ　＊カスタム2ｍΩ～
キャパシタンス	0.5pF ～ 200mF
インダクタンス	0.5μH ～ 500H
インピーダンス / 位相角	2.5Ω ～ 3.3MΩ / ±90°
トランス	インダクタンス、巻線比、位相差
PN接合VF測定	0.1V ～ 40V
ツェナーダイオード電圧	0.1V ～ 40V（オプション:ｍax.80Vまで）
オープンチェック	閾値5Ω ～ 50MΩで設定可能（標準100Ω以上）
ショートチェック	閾値1Ω ～ 500KΩで設定可能（標準10Ω以下）
ダイオード / トランジスタ / FET	PN接合VF測定、ONテスト、ゲイン、特性
リレー / フォトカプラー / スイッチ素子	ONテスト

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その他

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用途／実績例	【採用業界】　EMS,EMDS企業　半導体製造装置関係　通信インフラ・サーバー　車載・航空機・船舶　医療機器　産業機械、ロボット　FA工作機械　発電、電力システム【活用事例】 ■量産品の検査　　ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化/無人検査 ■多品種少量基板の検査　　専用治具製作コスト不要　不良個所の特定が容易 ■試作基板の検査　　設計変更に即応したファンクションテスト（基板に電圧を印加し、回路動作（ON/OFF）の確認や直流電流の測定） ■機種切り替え時の実装確認検査　　ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時セット間違いの確認 ■不良解析検査　　機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析他にも、様々な用途で活用いただいている実績がございます。詳しくは営業担当までお問い合わせください。