JTAGテスト技術の最新動向がわかる！バウンダリスキャン公開研究会のご案内（9/25 オンラインセミナー）

9/25（月）に開催される、バウンダリスキャン公開研究会（オンラインセミナー）にて、アンドールシステムサポート株式会社 谷口様と、タカヤ株式会社 柳田が共同で講演を行います。詳細情報は下記PDFファイルよりご確認いただけます。皆様、是非ご視聴ください。

公開研究会のご案内
バウンダリスキャン研究会は、日本でバウンダリスキャンの普及をめざし活動しています。バウンダリスキャンは高密度実装電子回路のICチップ間相互接続を保証する試験技術です。今回は、基調講演としてRapidus株式会社 専務執行役員の折井靖光様をお迎えしてチップレット時代における半導体パッケージ革命についてご講演頂きます。一般講演ではバウンダリスキャンによるチップレットテスト、フライングプローブテスタとバウンダリスキャンの連携、HALTにおけるバウンダリスキャンとCAEの連携の発表があります。

・テーマ　「バウンダリスキャン技術の最新動向」
・開催日時　 2023年9月25日（月）　13：30～16：50
・開催方式　WEB公開研究会　(Zoom Webinarシステム利用)

＜基調講演＞
　「チップレット時代における半導体パッケージ革命」
　　Rapidus株式会社　専務執行役員　折井 靖光 氏

＜講演１＞
　「バウンダリスキャンによるチップレットのテストと評価」
　　愛媛大学　亀山 修一 氏

＜講演２＞
　「フライングプローブテスタとJTAGテストのハイブリッド検査」
　　アンドールシステムサポート(株)　谷口 正純 氏、タカヤ(株)　柳田 光輝

＜講演３＞
　「バウンダリスキャンテストとCAEの連携によるHALT試験におけるBGA信頼性評価」
　　(株)先端力学シミュレーション研究所　前澤 祐 氏

バウンダリスキャン研究会ホームページ
バウンダリスキャン（JTAG）研究会 | エレクトロニクス実装学会 (jiep.or.jp)

オンラインセミナー申し込みページ
バウンダリスキャン研究会 2023年度公開研究会《9月25日》 一般社団法人 エレクトロニクス実装学会 (kktcs.co.jp)

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