フライングプローブテスタ 新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表しました。
タカヤ株式会社は、超高速検査で実装基板のあらゆる不良を確実に検出するフライングプローブテスタの新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表しました。
高密度実装基板の検査に対応できる 業界最高クラスのプロービング精度を誇りつつ、独自の制御機構・センシング技術により、あらゆる環境下で 信頼性の高い電気検査を実現します。また、ユーザーフレンドリーなインターフェースで、オペレーターの負荷低減・効率向上に貢献します。
本商品は、2025年1月22日（水）～24日（金）に東京ビッグサイトで開催される アジア最大級のエレクトロニクス製造・実装展『第39回 ネプコン ジャパン -エレクトロニクス 開発・実装展-』に 国内初出展します。
開発の背景：最新検査装置が実現する品質と効率
電子回路基板製造業界では、高性能化と小型化が進み、限られたスペースに数多くの部品を実装することが求められ、検査精度と効率への要求はますます高まっています。当社の最新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」は、こうした業界ニーズに応え、業界最高水準の技術を結集した画期的な検査装置です。
新しい検査装置には、微細な部品配置や接続を高精度にチェックできる最先端の検査技術を搭載。わずかな不良やリスクも見逃さず、製品の品質向上を強力にサポートします。また、当社独自の制御機構とセンシング技術により、変動しやすい環境下でも信頼性の高い検査を実現し、リコールリスクの低減といった品質管理への貢献が期待できます。
さらに、誰でも直感的に操作できるユーザーフレンドリーなインターフェースを採用し、特に労働力不足が深刻化する現場において 負担軽減を図りながらも高い検査精度を確保でき 生産性の向上に寄与します。グローバル市場にも対応できる柔軟性も備え、急増する需要に応じた生産体制の確立を強力にバックアップします。
タカヤの新しい検査装置は、品質、効率、そして使いやすさを兼ね備えた、まさに「選ばれる理由」を体現した製品です。業界をリードする品質管理の新しいスタンダードとして、ぜひご検討ください。
新モデルの主な特長
1，ハード/ソフトすべてを自社で一貫設計
製品のハードウェアからソフトウェアまで、すべてを自社で設計・開発することで、システムの最適化と 高い信頼性を実現しています。これにより、顧客の多様なニーズに柔軟に対応し、長期間にわたり安定したパフォーマンスを発揮します。カスタマイズにも迅速に対応可能で、最適なソリューションを提供します。
2，新開発のモーターシステム・検査プロープ機構
全領域でのコンタクト精度を向上し、より高精度な検査が可能となりました。基板にプローブが接触する瞬間に動作速度をゼロにする新制御システムにより、基板や部品へのダメージを最小限に抑え、耐久性の向上と さらなる検査精度の向上を実現しています。
精密な検査が必要な場面でも信頼性のある結果を提供し、品質管理の厳格化をサポートします。
3，液体レンズ付きCMOSカラーカメラ
液体レンズを搭載した最新のCMOSカラーカメラにより、従来機と比較し解像度が70%向上、被写体深度も300%向上しました。新たにOCR（文字認識）にも対応し、作業効率を大幅に改善します。
新開発の「3Dリアルマップ機能」により、プローブコンタクト位置を立体表示、可視化することで 直感的な操作を実現します。
4，リモートカメラ
遠隔地でもリアルタイムで作業の状況を確認でき、迅速な対応が可能です。ドライブレコーダーのように、トラブル発生時には自動で状況をキャプチャする機能を搭載しており、問題発生時の原因追跡や解析を容易にします。
運用効率を向上させ、作業停止時間を最小限に抑えられます。
5，検査プロープの自動クリーナー（オプション）
業界初「検査プローブの自動クリーナー」を搭載しました。この革新的な新機能により、従来、手動で行っていたクリーニング作業を自動化することで利便性が大幅に向上し、作業者の負担軽減、メンテナンス時間とコストの削減も実現します。
長時間の連続運用においても高い信頼性と生産性を提供し、効率的な品質管理に貢献します。
6，温度センサー（オプション）
新開発の温度センサーにより、室温や基板温度をリアルタイムでモニタリングし、測定結果に反映させることが可能です。温度変化の影響を受けやすい環境下でも安定したデータ取得を行えます。さらに、基板上の過熱箇所を特定するなど 温度異常の検出ができるため、不良解析、原因究明、改善策立案に貢献します。
7，ユニバーサルデザイン
ユーザーの多様な作業スタイルや操作環境に合わせ、モニターアームや操作系をユニバーサルデザイン化しています。画面の角度や高さを自在に調整できるため、立位・座位のどちらでも快適に操作が可能です。また、利き手に合わせた配置変更も簡単に行えるため、作業効率が向上し、長時間の作業でも疲労を軽減します。
さまざまな作業環境に適応できる柔軟性と快適性を提供します。
8，幅広い業界ニーズに対応する多彩な拡張機能
JTAGバウンダリスキャンなど デジタル検査との連携、周波数測定、LED＋UV＋IR領域の発光検査、マルチプローブ（オプション）を活用したFPGAなどへの書き込みなど、多岐にわたる拡張機能を備えています。さらに、OPC UA・IPC-HERMES-9852規格に準拠した通信にも対応し、他システムや製造ライン全体との円滑なデータ通信が可能です。
電子部品検査のあらゆるプロセスにおいて、精密な測定と柔軟な対応を実現し、製品信頼性を向上させる強力なツールとなります。
APT-2400F/2600FDより搭載された新機能の詳細はこちら、オプション機能はこちらをご覧ください。
ラインナップ
| 機種名 | モデル | 検査プローブ数 | 検査可能最大サイズ |
|---|---|---|---|
| APT-2400F | 標準モデル | 上面4軸 | 540×483mm |
| APT-2400F-SL | 大型モデル | 上面4軸 | 635×610mm |
| APT-2600FD | 両面標準モデル | 上面4軸/下面2軸 | 540×483mm |
| APT-2600FD-SL | 両面大型モデル | 上面4軸/下面2軸 | 635×610mm |
全モデルにインライン機の設定がございます。ローダー／アンローダー（別売）との接続により、最速40 m/minの連続自動検査体制を構築できます。スムーズな生産ラインを実現し、効率的な基板検査が可能です。
分割検査オプションを組み合わせることで、標準モデル（890 x 483mm）から大型モデル（985 x 610mm）まで、さまざまなサイズの基板検査に対応可能です。
ユーザーの製造プロセスに最適なインライン検査環境を提供し、生産性と品質管理の両立をサポートします。
販売開始時期
2025年1月（日本国内）
展示会出展情報
「APT-2600FD-A」を 国内初出展予定です。
【開催展名】第39回 ネプコン ジャパン -エレクトロニクス 開発・実装展
【会期】2025年1月22日(水)～24日(金)
【会場】東京ビッグサイト
【主催】RX Japan株式会社
＊ご来場には事前登録が必要です。こちらからお願いいたします。
