フライングプローブテスタ
APT-1600FD
上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。
APT-1600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で
基板の上面・下面の両ポイントへの同時コンタクト検査を可能としました。
検査可能範囲を大幅に拡大し、検査時間のさらなる高速化を実現しています。
豊富な機能を備え、スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇ります。
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。ご希望の方は『お問い合わせ』よりお申込みください。
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スペック
| プローブ数 | 上面4本 / 下面2本 |
|---|---|
| 検査ステップ数 | 最大 350,000ステップ |
| 測定スピード | 0.02秒/step～ |
| 最小コンタクトパッドサイズ | 60μm |
| プローブ位置決め繰り返し精度 | ±25μ～ |
| 最小プロービングピッチ | 0.15 mm |
| 検査可能サイズ | L540×D483mm オプションで890x483mmまで拡張 |
| 使用電源/エアー | 電源：AC200～240V（単相） 50/60Hz、最大2.8kVA エアー：0.6～0.8Mpa（ドライエアー） |
| 寸法、重量 | W1400×D1500×H1400mm 1400kg |
測定範囲
| DC電圧 / 電流 | ±125V / ±1A（オプション:±2Aまで） |
|---|---|
| AC電圧 | 150mV ～ 75Vrms, f = 10Hz ～ 0.5MHz |
| 周波数 | 1Hz ～ 20MHz / 2V ～ 20Vp-p |
| 抵抗 | 5mΩ ～ 50MΩ ＊カスタム2ｍΩ～ |
| キャパシタンス | 0.5pF ～ 200mF |
| インダクタンス | 0.5μH ～ 500H |
| インピーダンス / 位相角 | 2.5Ω ～ 3.3MΩ / ±90° |
| トランス | インダクタンス、巻線比、位相差 |
| PN接合VF測定 | 0.1V ～ 40V |
| ツェナーダイオード電圧 | 0.1V ～ 40V（オプション:ｍax.80Vまで） |
| オープンチェック | 閾値5Ω ～ 50MΩで設定可能（標準100Ω以上） |
| ショートチェック | 閾値1Ω ～ 500KΩで設定可能（標準10Ω以下） |
| ダイオード / トランジスタ / FET | PN接合VF測定、ONテスト、ゲイン、特性 |
| リレー / フォトカプラー / スイッチ素子 | ONテスト |
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その他
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|---|---|
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| 用途／実績例 | 【採用業界】 EMS,EMDS企業 半導体製造装置関係 通信インフラ・サーバー 車載・航空機・船舶 医療機器 産業機械、ロボット FA工作機械 発電、電力システム 【活用事例】 ■量産品の検査 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化/無人検査 ■多品種少量基板の検査 専用治具製作コスト不要 不良個所の特定が容易 ■試作基板の検査 設計変更に即応したファンクションテスト（基板に電圧を印加し、回路動作（ON/OFF）の確認や直流電流の測定） ■機種切り替え時の実装確認検査 ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時セット間違いの確認 ■不良解析検査 機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析 他にも、様々な用途で活用いただいている実績がございます。 詳しくは営業担当までお問い合わせください。 |
