インサーキットテスタは、部品実装されたプリント基板の製造不良を発見する検査装置です。
MDA（Manufacturing Defect Analyzer）とも呼ばれています。
基板を実際に動作させるのではなく、個々の電子部品の端子部へプロープを接触させ、
微小な電気信号を印加し検査することにより、基板を破損させることなく不良個所を特定します。
部品の定数間違い・コネクタやICリードのマイクロショートなど、 目視検査やAOI（画像検査）では見つけられない不良を電気検査で確実に発見します。
フライングプローブテスタ
検査能力
超高速検査で実装基板のあらゆる不良を確実に検出する
フライングプローブ式のインサーキットテスタです。
タカヤ株式会社は、1987年に
この『フライングプローブテスタ』を開発/販売開始しました。
そして、現在でも業界トップクラスのシェアを誇る
実装基板検査機業界の草分け的存在です。
高速・高精度検査はもちろん、
両面検査・大型重量基板対応・特殊カスタムなど、
あらゆる検査ニーズに対応できる豊富なラインアップを取りそろえております。
これからも、実装基板検査の多様化と、さらなる高速化にお応えする製品を開発し続けてまいります。
新機能
信頼性と生産性のさらなる向上に貢献。APT-2400F / APT-2600FDシリーズより新たに搭載される機能をご紹介します。
APT-2400F
高密度実装基板の検査に対応、業界最高クラスのプロービング精度を誇りつつ、あらゆる環境下で信頼性の高い電気検査を実現。最速0.02秒/ステップの超高速検査が可能な次世代モデル。
APT-2400F-SL
電源基板・プローブカードなど、大サイズの実装基板検査に対応。 最大で 985 x 610mmの基板検査にも対応できる次世代大型モデル。
APT-2600FD
基板の上面に4本、下面に２本のプローブを配置。 それぞれが自在に高速移動し、両面同時コンタクトを行うことで世界最高水準の驚異的な検査スピードを実現する次世代両面検査フラッグシップモデル。
APT-2600FD-SL
APT-2600FDの基本性能はそのままに大型化、さらなる検査範囲の拡大・時間短縮を実現する次世代両面検査大型フラッグシップモデル。
オプション機能
多様なニーズにお応えする フライングプローブテスタのオプション機能を紹介します。
